понедельник, 28 апреля 2014 г.
пятница, 25 апреля 2014 г.
Plan of the Course
NOTE: References lead to illustrative materials for the unit.
Units
|
Topics
|
1
|
Introduction. Types of impact. Classification of catastrophic and non-catastrophic failures (hard and soft errors). Materials
|
2
|
Physical mechanisms leading to TID in a bulk and SOI MOSFET. TID modelling in a standard VLSI design roadmap.
|
3
|
Physical processes in a bulk and SOI MOSFET during a strike of single charged particle. Linear Energy Transfer (LET), error cross-section, fluence, flux. Estimation of saturation cross-section using layout features.
|
4
|
The sources of upsets and catastrophic failures in space. Space weather. Natural and artificial radiation belts (Van Allen belts). Classification of spacecraft orbits. Materials
|
5
|
Single Event Effects modelling in a standard VLSI design roadmap. The synergy between SEE and TID in CMOS SRAM.
|
6
|
TID and SEE in perspective nano-scale double-gate transistors, FinFETs.
|
7
|
Hardness assurance. Modeling and imitation tools.
|
8
|
Radiation Hardening-by-Process and by-Design methods for TID effects.
|
9
|
Radiation Hardening-by-Process and by-Design methods for catastrophic SEE.
|
10
|
Architecture and design methods for soft radiation effects.
|
11
|
Layout and process-based methods for soft radiation effects.
|
12
|
Silicon-on-Insulator technology. Special methods for TID and SEE.
|
13
|
Error Correction Codes (ECC).
|
14
|
The influence of scaling to SEE and TID sensitivity
|
понедельник, 21 апреля 2014 г.
Recommended References
There are some recommended references in Russian and in English:
Main:
1) Зебрев Г.И. Физические основы кремниевой наноэлектроники:Учебное пособие. — М.: МИФИ, 2008. — 288 с.
4) Чумаков А.И.. Действия космической радиации на интегральные
схемы. М.: "Радио и связь", 2004 – 319 с.
8) RadiationEffects in Semiconductors. Edited by K. Iniewski. – CRC Press, 2011.
9) Richard H. Maurer, Martin E. Fraeman, Mark N. Martin, and David R. Roth. Harsh Environments: Space Radiation Environment, Effects, and Mitigation. Johns Hopkins APL Technical Digest, Volume 28, Number 1 (2008).
9) Richard H. Maurer, Martin E. Fraeman, Mark N. Martin, and David R. Roth. Harsh Environments: Space Radiation Environment, Effects, and Mitigation. Johns Hopkins APL Technical Digest, Volume 28, Number 1 (2008).
Additional:
1) Першенков В.С., Скоробогатов П.К., Улимов В.Н. Дозовые эффекты в изделиях современной микроэлектроники:
Учебное пособие. М.: НИЯУ МИФИ, 2011. – 172 с.
2) Никифоров А.Ю.,
Телец В.А., Чумаков А.И. Радиационные эффекты в КМОП ИС. – М.: Радио и связь,
1994. – 164 с.
3) Першенков В.С.,
Попов В.Д., Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных
микросхем М.: Энергоатомиздат, 1988.
5) Попов В.Д., Белова Г.Ф. Физические основы проектирования
кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении:
Учебное пособие. – СПб.: Издательство «Лань», 2013. – 208 с.
Online programs and useful web-sites:
Подписаться на:
Сообщения (Atom)