понедельник, 12 февраля 2024 г.

About

Hello!

Welcome to the academic blog devoted to the "Design of radiation-hard fault-tolerant CMOS VLSI" course for students of National Research Nuclear University "MEPhI", Micro- and nanoelectronics department.

There are various photo, video, charts, etc. presented here as an illustrations or additional materials for the lectures. Probably, later you'll also find here tests for exams.
You're welcome to comment all posts even if you are entered here accidently and not a student. Your any comments, corrections and links to other interesting sources are highly appreciated!





Привет!

Вы попали в учебный блог курса "Design of radiation-hard fault-tolerant CMOS VLSI" ("Проектирование радиационно-стойких сбоеустойчивых цифровых КМОП СБИС (на английском языке)"), читаемого студентам 5-го курса кафедры "Микро- и наноэлектроники" НИЯУ МИФИ. 

Здесь выкладываются различные фото, видео, рисунки и т.д., служащие иллюстрациями или доп. материалами лекций. Возможно, впоследствии здесь будут также задания для контрольных/тестов и т.д. 

Все посты можно и нужно комментировать, даже если Вы попали сюда совершенно случайно и не являетесь студентом.

Указания на ошибки, опечатки или другие интересные источники - всячески приветствуются!

воскресенье, 11 января 2015 г.

Space Environment Hazards

Major Space Environment Hazards:


Space Environment Hazards by Orbit:

Impact Study Results:


ESD from charging was the dominant environment impact, and most of the events occurred at GEO (where there is a large population of vehicles).


From:
J. E. Mazur, P. O’Brien, J. F. Fennell. Space Environment Effects on Space Systems. Presentation at the Workshop on Science Associated With the Lunar Exploration Architecture February 26-March 2, 2007.

Available online.

понедельник, 28 апреля 2014 г.

Test Example


1) Какой разрез структуры, изображённый ниже, - правильный (обвести букву)?
What section of the following structure is correct?
a)
b)
с)
d)


пятница, 25 апреля 2014 г.

Plan of the Course


NOTE: References lead to illustrative materials for the unit.


Units
Topics
1
Introduction. Types of impact. Classification of catastrophic and non-catastrophic failures (hard and soft errors). Materials
2
Physical mechanisms leading to TID in a bulk and SOI MOSFET. TID modelling in a standard VLSI design roadmap.
3
Physical processes in a bulk and SOI MOSFET during a strike of single charged particle. Linear Energy Transfer (LET), error cross-section, fluence, flux. Estimation of saturation cross-section using layout features.
4
The sources of upsets and catastrophic failures in space. Space weather. Natural and artificial radiation belts (Van Allen belts). Classification of spacecraft orbits. Materials
5
Single Event Effects modelling in a standard VLSI design roadmap. The synergy between SEE and TID in CMOS SRAM.
6
TID and SEE in perspective nano-scale double-gate transistors, FinFETs.
7
Hardness assurance. Modeling and imitation tools.
8
Radiation Hardening-by-Process and by-Design methods for TID effects.
9
Radiation Hardening-by-Process and by-Design methods for catastrophic SEE.
10
Architecture and design methods for soft radiation effects.
11
Layout and process-based methods for soft radiation effects.
12
Silicon-on-Insulator technology. Special methods for TID and SEE.
13
Error Correction Codes (ECC).
14
The influence of scaling to SEE and TID sensitivity


понедельник, 21 апреля 2014 г.

Recommended References

There are some recommended references in Russian and in English:



Main:



4) Чумаков А.И.. Действия космической радиации на интегральные схемы. М.: "Радио и связь", 2004 – 319 с.





Additional:

1) Першенков В.С., Скоробогатов П.К., Улимов В.Н. Дозовые эффекты в изделиях современной микроэлектроники: Учебное пособие. М.: НИЯУ МИФИ, 2011. – 172 с.

2) Никифоров А.Ю., Телец В.А., Чумаков А.И. Радиационные эффекты в КМОП ИС. – М.: Радио и связь, 1994. – 164 с.

3) Першенков В.С., Попов В.Д., Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем М.: Энергоатомиздат, 1988.


5) Попов В.Д., Белова Г.Ф. Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении: Учебное пособие. – СПб.: Издательство «Лань», 2013. – 208 с.


Online programs and useful web-sites:

понедельник, 24 февраля 2014 г.